检测项目
1.膜层厚度：测量范围0.1nm-10μm，精度0.05nm（椭圆偏振法）
2.折射率与消光系数：波长覆盖190-2500nm（分光光度法）
3.附着力强度：划痕法临界载荷1-100N（纳米压痕仪）
4.表面粗糙度：Ra值0.1-50nm（原子力显微镜）
5.透光率/反射率：光谱范围300-2000nm（积分球系统）
检测范围
1.光学功能薄膜：AR减反射膜、IR截止滤光片
2.半导体介质层：SiO₂绝缘膜、SiN钝化层
3.光伏组件膜系：ITO导电膜、PERC电池Al₂O₃层
4.柔性显示基材：PET/CPI硬化涂层
5.真空镀膜器件：磁控溅射Al膜、电子束蒸发TiO₂膜
检测方法
1.ASTME903-20：材料太阳光吸收比测试规范
2.ISO14703:2022：薄膜厚度X射线反射法
3.GB/T29595-2013：地面用光伏组件涂层测试通则
4.ISO20502:2021：陶瓷涂层附着力划痕试验法
5.GB/T38256-2019：光学功能薄膜雾度测定方法
检测设备
1.J.A.WoollamM-2000D型椭偏仪：宽光谱膜厚/光学常数分析
2.BrukerDimensionIcon原子力显微镜：纳米级表面形貌表征
3.ShimadzuUV-3600iPlus分光光度计：紫外-近红外透反射测试
4.CSMInstrumentsRevetest划痕仪：动态载荷附着力评估
5.ZeissSmartproof5共聚焦显微镜：三维表面粗糙度测量
6.ThermoScientificK-AlphaXPS：表面元素化学态分析
7.Agilent5500AFM/STM联用系统：原子级分辨率成像
8.VeecoDektakXTL台阶仪：微米级膜厚轮廓测量
9.MalvernPanalyticalEmpyreanXRD：晶体结构分析
10.KeysightB1500A半导体分析仪：介电特性测试
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
