检测项目
5.发射均匀性评估：通过扫描电子显微镜(SEM)观测发射点分布密度（分辨率≥50nm）
检测范围
5.扫描探针显微镜(SPM)钨探针尖端
检测方法
5.GB/T35031-2018：碳基薄膜场致发射性能试验方法
检测设备
<0.5eV）10.AdvantestR6243高压电源：最大输出电压30kV（精度0.05%）
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
