检测项目
1. 噪声等效温差（NETD）：≤50 mK@25℃/f/1.0
2. 响应率：≥5×10^8 V/W@8-14μm波段
3. 响应时间：≤15 ms@阶跃信号输入
4. 工作波段范围：8-14μm波长透过率≥85%
5. 像元均匀性：≤5%全阵列标准差
检测范围
1. 氧化钒（VOx）微测辐射热计阵列
2. 非晶硅（a-Si）红外焦平面探测器
3. 热电堆型红外传感器组件
4. 碲镉汞（HgCdTe）薄膜器件
5. 量子阱红外光电探测器（QWIP）
检测方法
ASTM E1213-2014：红外焦平面阵列响应率测试规范
ISO 18554-2017：非制冷探测器NETD测量方法
GB/T 13584-2019：红外成像系统通用规范
GB/T 26253-2010：红外探测器噪声测试规程
IEC 62607-3-1:2020：纳米制造器件可靠性评估
检测设备
FLIR A700红外热像仪：用于NETD与温度分辨率测试
Agilent 4156C半导体参数分析仪：电流-电压特性曲线测量
Labsphere LMS-7600黑体辐射源：提供标准红外辐射场
Bruker Vertex 80v傅里叶光谱仪：光谱响应特性分析
Tektronix DPO7054示波器：瞬态响应时间测量
Thermo Scientific ESCALAB Xi+ XPS：材料表面成分分析
Keithley 2636B源表：暗电流与阻抗特性测试
Optronic Laboratories OL750单色仪：波长标定系统
Espec PL-3KFP恒温恒湿箱：环境适应性试验装置
Bruker Contour Elite台阶仪：微结构形貌表征设备
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
