检测项目
1. 透光率：测量波长范围200-2500nm，精度±0.5%，依据材料类型设定入射角（0°-60°）
2. 折射率：测试波长589.3nm（钠D线），温度控制25±0.1℃，测量精度±0.0002
3. 表面粗糙度：Ra值范围0.1-10μm，采用白光干涉法测量
4. 双折射率：最大延迟量测量精度±0.1nm，空间分辨率≤1μm
5. 膜层厚度：测量范围10nm-100μm，误差≤±1%
检测范围
1. 光盘存储介质：CD/DVD/蓝光光盘基板与记录层
2. 光学镜片：树脂/玻璃材质眼镜片、相机镜头
3. 显示面板：LCD/OLED基板玻璃、偏光膜
4. 光伏材料：太阳能电池封装玻璃、减反射涂层
5. 光纤材料：石英光纤预制棒、聚合物光纤
检测方法
1. ASTM D1003：透明塑料透光率和雾度测定
2. ISO 489:1997：塑料折光指数测定方法
3. GB/T 13823.17：激光干涉法表面粗糙度测量
4. ISO 13696:2002：光学元件散射特性测试
5. GB/T 26331-2010：光学薄膜厚度测量方法
检测设备
1. 分光光度计（PerkinElmer Lambda 1050）：200-3300nm全波段透射/反射分析
2. 激光椭偏仪（J.A. Woollam M-2000D）：70°入射角下薄膜厚度与折射率测量
3. 白光干涉仪（Zygo NewView 9000）：0.1nm垂直分辨率表面形貌分析
4. 双折射测量系统（Hinds Instruments Exicor 150AT）：延迟量测量精度±0.02nm
5. 原子力显微镜（Bruker Dimension Icon）：1Å分辨率表面微观结构表征
6. X射线衍射仪（Rigaku SmartLab）：晶体结构分析与应力测试
7. 激光共聚焦显微镜（Olympus LEXT OLS5000）：12000×放大倍率三维成像
8. 环境试验箱（Espec PL-3J）：温度-70℃~180℃循环测试
9. 氙灯老化箱（Q-Lab Q-SUN Xe-3）：光谱匹配度CIE85标准
10. 纳米压痕仪（Agilent G200）：0.1μN分辨率硬度模量测试
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
