整体结构检测-检测仪器
1. 光学显微镜:用于观察材料的整体结构,包括表面形貌、颗粒大小等。
2. 扫描电子显微镜(SEM):能够高分辨率地观察样品的表面形貌,并获取显微级别的图像。
3. 透射电子显微镜(TEM):通过透射电子束观察材料内部的结构和组织,能提供更高分辨率的图像。
4. X射线衍射仪(XRD):用于确定材料的晶体结构、晶格常数和晶相。
5. 红外光谱仪(IR):能够通过测量材料的红外吸收来获取其分子结构和化学组成。
6. 热分析仪(TG-DTA):可以测量材料在不同温度下的质量变化、热特性和热稳定性。
7. 弹性仪(DMA):用于测量材料的弹性性能和动态机械性能。
8. 压缩试验机:用于测定材料的抗压性能。