位错芯检测是一种用于分析材料中位错结构和性质的技术。
它主要应用于晶体材料，如金属、半导体等。
常见的位错芯检测方法包括：
电子显微镜：用于观察位错的形态和分布。
X 射线衍射：可以确定位错的类型和密度。
原子力显微镜：能够提供位错芯的高分辨率图像。
位错芯检测的目的是了解材料的力学性能、晶体结构和缺陷特征。
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中析研究所
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