微粒子注检测主要应用于半导体制造和相关领域，用于检测和分析微小粒子的存在和特性。
常见的微粒子注检测对象包括但不限于：
半导体晶圆：检测晶圆表面的微粒子污染。
芯片：检测芯片制造过程中的微粒子。
光掩模：检测光掩模上的微粒子。
液晶面板：检测液晶面板制造中的微粒子。
硬盘驱动器：检测硬盘驱动器部件的微粒子。
光学元件：检测光学元件表面的微粒子。
真空系统：检测真空系统中的微粒子。
其他微电子器件：检测各种微电子器件中的微粒子。
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中析研究所
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