外延生长检测是用于评估外延生长过程和外延层质量的测试方法。
常见的外延生长检测包括但不限于：
薄膜厚度测量：如 X 射线衍射、反射率测量等。
晶体质量评估：如 X 射线衍射、拉曼光谱等。
杂质浓度检测：如二次离子质谱、霍尔效应测量等。
表面形貌观察：如原子力显微镜、扫描电子显微镜等。
电学性能测试：如电阻率测量、电容-电压测量等。
光学性能测试：如光致发光光谱、吸收光谱等。
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中析研究所
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