锗粉检测主要应用于锗材料的质量控制和产品认证，用于检测锗粉样品中的主要成分和杂质。
常见的锗粉检测项目包括但不限于：
1. 主要成分分析：常用方法包括X射线荧光光谱（XRF）和电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES），用于检测锗粉中的锗含量。
2. 杂质分析：常用方法包括电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）和气相色谱-质谱法（GC-MS），用于检测锗粉中的有害元素和有机污染物。
3. 粒径分析：常用方法包括激光散射法（LS），通过测量锗粉中颗粒的散射光强度来确定其粒径分布。
4. 表面形貌分析：常用方法包括扫描电子显微镜（SEM）和原子力显微镜（AFM），用于观察锗粉的表面形貌和粒子形状。
5. 电性能分析：常用方法包括电导率测量和电阻率测量，用于评估锗粉的导电性能和电阻特性。
