外延扩散法检测主要用于半导体材料和器件的检测。
常见的外延扩散法检测对象包括但不限于：
硅片：用于检测硅片的杂质浓度、晶体缺陷等。
半导体器件：如二极管、晶体管等，用于检测器件的性能和可靠性。
集成电路：用于检测集成电路的性能和可靠性。
半导体材料：如砷化镓、磷化铟等，用于检测材料的性能和质量。
全站搜索
中析研究所
- 北京总部: 北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121
- 山东分部: 山东省济南市历城区唐冶绿地汇中心36号楼
- 联系在线工程师
- 网站首页 : https://www.yjsshier.com/