突变结检测主要应用于半导体器件和集成电路领域，用于检测半导体材料中的突变结结构和特性。
常见的突变结检测对象包括但不限于：
二极管：如 PN 结二极管、肖特基二极管等。
三极管：如 NPN 三极管、PNP 三极管等。
集成电路：如芯片、微处理器等。
半导体材料：如硅、锗等。
金属-半导体接触：如欧姆接触、肖特基接触等。
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中析研究所
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