外延长度检测是对半导体器件中外延层长度的测量和评估。
常见的外延长度检测对象包括但不限于：
硅外延片：用于集成电路制造。
砷化镓外延片：用于微波器件和光电器件。
磷化铟外延片：用于光通信和半导体激光器件。
碳化硅外延片：用于功率器件和高温电子器件。
外延层的长度对于半导体器件的性能和可靠性具有重要影响，因此外延长度检测是半导体制造过程中的关键环节之一。
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