正方晶系是晶体学中的一种晶体结构类型。为了检测晶体的结构类型是否属于正方晶系，可以采用以下方法：
1. X射线衍射：通过对晶体进行X射线衍射实验，观察和分析衍射的强度、角度和位置，从而确定晶体的结构类型。
2. 晶体光学显微镜观察：通过晶体光学显微镜观察晶体的外形和内部结构，以及可能存在的双折射现象，从而初步判定晶体的结构类型。
3. 晶体的物理性质测量：通过测量晶体的物理性质，如电阻率、磁性、热传导性等，以及可能存在的对称性特征，从而推断晶体的结构类型。
4. 电子显微镜观察：利用电子显微镜对晶体进行观察和分析，以获得更高分辨率的图像，并进一步确定晶体的结构类型。
总之，通过综合应用上述方法，可以对晶体的结构类型进行准确判定和检测。
