再结晶峰值检测是一种用于分析物体发生再结晶过程的方法。
1. 首先，将需要检测的样品通过适当的方式进行制备，并将其置于X射线衍射仪中。
2. 调整X射线衍射仪的参数，包括入射角、扫描速度等，以获得高质量的衍射图谱。
3. 通过比对待测样品的衍射图谱与已知标准物质的衍射图谱，确定再结晶峰值的位置。
4. 使用特定的软件，如XRD分析软件，对衍射图谱进行数据处理和分析，以获取峰值的偏移角度和强度。
5. 根据衍射峰的位置和强度，可以确定样品中再结晶的程度和组成成分。
6. 对于无法通过比对标准物质来确定峰值的情况，可以采用定量计算的方法，根据峰值的大小，与再结晶峰值的相对强度和位置来进行分析和判断。
7. 最后，根据分析结果，可以评估样品的纯度、结晶度和再结晶程度。
