扫描电子显微镜（SEM）：用于观察细粒的表面形貌和微观结构。
X 射线衍射（XRD）：分析细粒的晶体结构。
粒度分析：测量细粒的粒径分布。
比表面积测定：评估细粒的表面积。
热重分析（TGA）：研究细粒的热稳定性和成分。
元素分析：确定细粒中的元素组成。
红外光谱（IR）：分析细粒的化学键和官能团。
荧光光谱：检测细粒的荧光特性。
磁性能测试：评估细粒的磁性。
电性能测试：测量细粒的导电性等电性能。
全站搜索
中析研究所
- 北京总部: 北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121
- 山东分部: 山东省济南市历城区唐冶绿地汇中心36号楼
- 联系在线工程师
- 网站首页 : https://www.yjsshier.com/