X 射线检测：可用于检测器件内部结构和缺陷。
光学显微镜检测：适用于观察器件表面的微观结构和细节。
扫描电子显微镜检测：能提供高分辨率的表面形貌图像。
电学性能测试：包括电阻、电容、电感等参数的测量。
功能测试：验证器件的特定功能是否正常。
可靠性测试：评估器件在不同环境条件下的稳定性和可靠性。
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中析研究所
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