电子显微镜观察法：利用电子显微镜直接观察材料中位错的形态和分布。
X 射线衍射法：通过分析 X 射线衍射图谱来确定位错的存在和密度。
电阻率测量法：测量材料的电阻率变化，间接反映位错的增殖情况。
硬度测试法：位错增殖会导致材料硬度的变化，可以通过硬度测试来检测。
热膨胀系数测量法：位错的存在会影响材料的热膨胀系数，可用于检测位错增殖。
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中析研究所
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