X 射线衍射法：通过分析晶体的衍射图谱来检测位错攀移。
电子显微镜观察：直接观察材料中的位错结构和攀移情况。
原子力显微镜：提供高分辨率的表面形貌图像，可用于检测位错攀移。
力学性能测试：通过测量材料的力学性能变化来间接推断位错攀移。
热分析方法：如差示扫描量热法，用于研究位错攀移与温度的关系。
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中析研究所
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