X 射线衍射法：通过分析晶体结构中的衍射图案来检测位错列。
电子显微镜法：利用电子束扫描样品，观察位错列的形态和分布。
原子力显微镜法：通过测量样品表面的原子力来检测位错列。
光学显微镜法：在适当的条件下，可以观察到位错列的存在。
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中析研究所
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