微探针检测是一种用于分析材料表面和近表面特性的技术。它通常使用一根非常细小的探针，通过与样品表面的相互作用来获取信息。以下是一些常见的微探针检测方法：
扫描隧道显微镜（STM）：通过测量探针与样品表面之间的隧道电流来获取表面形貌和电子结构信息。
原子力显微镜（AFM）：利用探针与样品表面之间的相互作用力来测量表面形貌和力学性质。
扫描电子显微镜（SEM）：通过电子束与样品表面的相互作用产生二次电子，从而获得表面形貌和成分信息。
透射电子显微镜（TEM）：利用电子束穿过样品来获取样品的内部结构和成分信息。
能量色散 X 射线光谱（EDS）：结合 SEM 或 TEM 使用，用于分析样品表面的元素组成。
拉曼光谱：通过测量样品对激光的散射来获取分子结构和化学键信息。
荧光光谱：利用样品对激发光的发射来研究分子的荧光特性和结构。
这些微探针检测方法各有其特点和应用范围，可以根据具体的研究需求选择合适的方法。它们在材料科学、物理学、化学、生物学等领域都有广泛的应用。
