X 射线衍射法：用于确定晶体结构和晶格参数。
电子衍射法：适用于研究微小晶体和薄膜的结构。
中子衍射法：对氢原子等轻元素的检测较为敏感。
扫描电子显微镜：可观察晶体的表面形貌和微观结构。
透射电子显微镜：用于高分辨率的晶体结构分析。
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中析研究所
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