应变片法：在试件表面粘贴应变片，通过测量应变片的应变来计算弯曲力矩。
位移传感器法：测量试件在弯曲力矩作用下的位移，通过位移与弯曲力矩的关系计算弯曲力矩。
力传感器法：在试件上安装力传感器，直接测量作用在试件上的力，进而计算弯曲力矩。
光学测量法：利用光学原理，如激光干涉仪等，测量试件的变形，从而计算弯曲力矩。
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