X 射线检测：利用 X 射线穿透物体，检测外壳层内部结构和缺陷。
超声波检测：通过超声波在物体中的传播和反射，检测外壳层的厚度、缺陷等。
磁粉检测：用于检测外壳层表面和近表面的裂纹、缺陷等。
渗透检测：检测外壳层表面开口性缺陷。
涡流检测：适用于检测外壳层的导电性能和缺陷。
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中析研究所
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