栅极电阻检测是用于测量半导体器件中的栅极电阻，以确定器件的电特性和性能。
以下是栅极电阻检测的方法：
1. 四端法（Kelvin法）：
四端法是通过使用四个接触电极来测量栅极电阻。其中两个电极作为电流输入和输出，另外两个电极用于测量电压。这种方法可以排除接触电阻和导线电阻对结果的影响。
2. 两端法：
两端法是使用两个接触电极进行测量，其中一个电极用于输入电流，另一个电极用于测量电压。这种方法简单快捷，但无法消除接触电阻和导线电阻对结果的影响。
3. 无接触法（非接触法）：
无接触法是使用非接触技术进行栅极电阻测量。常见的方法包括热电阻测量、微探针测量等。这种方法适用于对器件进行非破坏性测试。
