电子背散射衍射（EBSD）：用于分析晶体材料的微观结构和取向关系。
原子力显微镜（AFM）：可以提供高分辨率的表面形貌图像，检测细滑移的存在。
扫描电子显微镜（SEM）：用于观察材料表面的微观结构和缺陷。
X 射线衍射（XRD）：分析材料的晶体结构和相组成。
透射电子显微镜（TEM）：提供高分辨率的微观结构信息，可用于检测细滑移。
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中析研究所
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