X 射线衍射（XRD）：用于确定晶体结构和相组成。
扫描电子显微镜（SEM）：观察微观结构和形貌。
热重分析（TGA）：检测热稳定性和分解温度。
元素分析：确定元素组成。
红外光谱（IR）：分析官能团。
比表面积分析：测定比表面积。
X 射线荧光光谱（XRF）：快速元素分析。
化学分析：检测特定化学物质的含量。
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中析研究所
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