X 射线衍射法：通过分析 X 射线在晶体中的衍射图案，来确定位错的存在和分布。
电子显微镜法：利用电子束照射样品，观察位错的形态和分布。
光学显微镜法：通过显微镜观察样品的表面，来检测位错的存在。
原子力显微镜法：利用原子力显微镜来检测位错的形态和分布。
超声波检测法：通过超声波在材料中的传播，来检测位错的存在和分布。
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中析研究所
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