电子显微镜检测法：利用电子显微镜对材料进行观察，可直接观察到位错墙的形态和结构。
X 射线衍射检测法：通过分析 X 射线在材料中的衍射图案，来确定位错墙的存在和特征。
原子力显微镜检测法：可用于检测材料表面的微观结构，包括位错墙。
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中析研究所
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