电子显微镜检测法：利用电子显微镜观察材料中的位错结构，可直接观察到位错的形态和分布。
X 射线衍射检测法：通过分析 X 射线衍射图谱，确定材料中的位错密度和类型。
原子力显微镜检测法：可用于检测材料表面的位错结构和分布。
正电子湮没检测法：通过测量正电子与材料中的缺陷相互作用，间接检测位错的存在。
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中析研究所
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