扫描电子显微镜（SEM）：可以对样品的表面形貌进行高分辨率成像，用于检测微区的不均匀性。
能量色散 X 射线光谱（EDS）：可以对样品表面的元素分布进行分析，用于检测微区的化学成分不均匀性。
原子力显微镜（AFM）：可以对样品的表面形貌进行高分辨率成像，用于检测微区的粗糙度和不均匀性。
电子探针微区分析（EPMA）：可以对样品的微区进行元素分析，用于检测微区的化学成分不均匀性。
激光共聚焦显微镜（LCM）：可以对样品进行三维成像，用于检测微区的形态和结构不均匀性。
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