扫描电子显微镜（SEM）：通过扫描电子束对样品表面进行成像，可用于观察微观结构、形貌和成分分析。
透射电子显微镜（TEM）：利用电子束穿透样品，提供高分辨率的微观结构信息，可用于研究晶体结构、纳米材料等。
原子力显微镜（AFM）：通过测量探针与样品表面之间的相互作用力，生成微观结构的图像，可用于研究表面形貌、粗糙度和力学性质。
X 射线衍射（XRD）：利用 X 射线照射样品，通过衍射图案分析晶体结构和相组成。
能量色散 X 射线光谱（EDS）：结合 SEM 或 TEM 使用，可对样品进行元素分析。
拉曼光谱：通过测量样品对激光的散射光谱，提供关于分子结构和化学键的信息。
荧光显微镜：利用荧光标记或自发荧光来观察细胞和生物分子的微观结构和分布。
电子探针微区分析（EPMA）：用于定量分析样品中的元素组成和分布。
差示扫描量热法（DSC）：测量样品在加热或冷却过程中的热性能变化，可用于研究相变、结晶行为等。
热重分析（TGA）：监测样品在加热过程中的质量变化，可用于分析材料的热稳定性和成分。
