光学显微镜检测：通过显微镜观察物体表面的微观结构，检测是否存在变形。
电子显微镜检测：利用电子束对物体进行扫描，获取更详细的微观结构信息，以检测变形。
X 射线衍射检测：通过分析 X 射线在物体中的衍射图案，了解物体的晶体结构，从而检测变形。
扫描探针显微镜检测：使用探针在物体表面扫描，获取微观形貌和物理性质信息，检测变形。
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中析研究所
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