电子显微镜观察：通过电子显微镜直接观察晶体中的位错结构。
X 射线衍射：利用 X 射线衍射技术分析晶体的衍射图谱，以确定位错的存在和类型。
原子力显微镜：用于检测表面位错和晶体结构的变化。
光学显微镜：在特定条件下，可以观察到一些较大的位错。
计算机模拟：通过模拟晶体结构和位错行为来预测和分析位错的存在和性质。
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中析研究所
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