弯晶摄谱仪检测方法是一种用于分析物质成分和结构的技术。它利用弯曲晶体对 X 射线的衍射作用，将 X 射线衍射图谱记录下来，从而获得物质的结构信息。
该方法的检测范围包括但不限于以下几个方面：
1. 材料科学：用于分析金属、陶瓷、聚合物等材料的晶体结构和相组成。
2. 地质学：用于研究岩石、矿物等地质样品的结构和成分。
3. 化学：用于分析有机化合物、无机化合物等化学物质的结构和成分。
4. 生物学：用于研究生物大分子（如蛋白质、DNA 等）的结构和功能。
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中析研究所
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