突变易发点检测可以通过 DNA 测序技术来进行，包括 Sanger 测序和新一代测序技术。这些技术可以检测 DNA 序列中的突变，包括点突变、插入/缺失突变和染色体结构变异等。
突变易发点检测还可以通过基因芯片技术来进行，该技术可以同时检测多个基因的突变。
此外，突变易发点检测还可以通过 PCR 技术来进行，该技术可以特异性地扩增突变易发点所在的 DNA 片段，从而检测突变。
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中析研究所
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