X 射线衍射分析（XRD）：用于确定样品中存在的铜铁硫化物的晶体结构和相组成。
扫描电子显微镜（SEM）和能谱分析（EDS）：用于观察样品的微观结构和元素组成，确定铜铁硫化物的存在和分布。
电感耦合等离子体发射光谱（ICP-OES）或原子吸收光谱（AAS）：用于定量分析样品中铜和铁的含量。
X 射线荧光光谱（XRF）：可用于快速定性和半定量分析样品中的元素组成，包括铜和铁。
热重分析（TGA）：用于研究铜铁硫化物在加热过程中的热稳定性和相变。
拉曼光谱：可提供关于铜铁硫化物分子结构和化学键的信息。
